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    徠卡清潔度檢測系統

    簡要描述:

    在汽車制造領域,大量零部件在圖紙上就對清潔度有詳細要求,并且要求對殘留物顆粒進行全面分析和判定。在整個工作流程中快速獲得準確可靠的清潔度分析結果將會是一項巨大的優勢。在進行這項質量控制任務時,通常要使用來自多家廠商的多種儀器來進行分析。因此,相確公司選擇和徠卡品牌顯微鏡,推出成套清潔度分析解決方案??蛻艨梢詮恼w解決方案中獲得優勢,同時得到專業的建議,從而實現流程優化,并得以持續保持。

    • 產品特點
    • 技術規格
    • 應用領域

      在汽車制造領域,大量零部件在圖紙上就對清潔度有詳細要求,并且要求對殘留物顆粒進行全面分析和判定。在整個工作流程中快速獲得準確可靠的清潔度分析結果將會是一項巨大的優勢。在進行這項質量控制任務時,通常要使用來自多家廠商的多種儀器來進行分析。因此,相確公司選擇和徠卡品牌顯微鏡,推出成套清潔度分析解決方案??蛻艨梢詮恼w解決方案中獲得優勢,同時得到專業的建議,從而實現流程優化,并得以持續保持。

       

      清潔度分析流程 – 步驟

       

      零件/組件制備

      零件類型、需要的方法

      制備方法取決于零件或組件類型以及要分析的樣品大小。根據零件特性和樣品大小最終確定解決方案。

      提取/過濾

      攪拌、零件清洗、超聲波處理、測試臺

      通過噴涂、清洗或超聲波處理等方式,從零部件中提取污染物顆粒。隨后,讓清潔溶液流經過濾器 (過濾器類型取決于清潔的部件),顆粒則會留在薄膜上用于分析。相確提供不同規格的清洗柜和過濾器可用于過濾處理步驟。經過干燥后,對過濾器進行評估。

      顆粒分析

      檢測、定量、分類

      根據顆粒大小和類型,對其進行檢測、定量和分類,判斷其可能引起的潛在破壞性。使用復合或數字顯微鏡和清潔度軟件模塊,同時借助徠卡清潔度分析解決方案完成這些任務。使用復合或數字顯微鏡和清潔度軟件模塊,同時借助徠卡清潔度分析解決方案完成這些任務。

      檢查結果

      ISO 16232 和 VDA19

      仔細復查分析結果,確定是否存在任何具有潛在破壞性的顆粒。金屬顆粒的潛在破壞性更高,而徠卡成像解決方案能夠自動識別金屬顆粒。這些具有潛在破壞性的顆粒會影響組件的使用壽命,甚至還會導致系統故障。

      響應

      采取對應措施

      借助全面清潔度分析得到的結果,使工作流程逐步得到優化。然后識別具有潛在破壞性的顆粒,確定并消除污染源。目標在于不斷改進清潔度分析過程,進而消除和較大程度減少污染。

      相確作為清潔度分析檢測系統的集成供應商,我們清潔度檢測分析提供了正確的解決方案。 用戶可以從可靠的結果中受益。 您將收到以下信息:

      >顆粒數量 - >總體污染程度

      >粒徑(長度,寬度和高度) - >單個粒子的損傷潛力

      >顆粒材料(反射或非反射,因此是金屬或塑料) - >顆粒載荷的一般損傷可能性以及單個顆粒的損傷可能性

      >顆粒和纖維之間的區別 - >單個顆粒的損傷可能性和污染源

      根據分析的產品上述要點的重要性可能會有所不同。 我司清潔度提供靈活的配置和標準,如ISO 16232,VDA 19和ISO 4406根據該分析可以進行分析。

      校準符合國際標準

      根據ISO 16232,在自動粒子測量中,最小粒子的長度應至少為10個像素。

      特別是對于VDA 19和ISO 16232,使用的校準值應與顯微鏡系統的光學分辨率成比例。

      粒徑的校準值取決于顯微鏡的放大倍數,相機適配器和相機的像素大小

      相機芯片的像素尺寸/放大倍數=校準值

      客觀放大

      C-Mount Mag(相機適配器)

      相機芯片上的像素尺寸

      校準系數

      分檔模式下的校準因子

      2.5x

      0.7x

      3.2 μm

      1.83 μm/Pixel

      3.66 μm/Pixel

      5x

      0.7x

      3.2 μm

      0.91 μm/Pixel

      1.82 μm/Pixel

      10x

      0.7x

      3.2 μm

      0.46 μm/Pixel

      0.92 μm/Pixel

      示例:3.2μm/(5 x 0.7)=0.9μm/像素?在分檔模式下1.8μm/像素

      ?使用5倍放大倍率的物鏡時,會顯示20μm的粒子。 11個像素

      根據VDA 19,10像素標準主要適用于測量功能關鍵粒子。

      對于其他粒子測量,要求可以衰減到分辨率值的五倍。

      d(光學分辨率)=l/ 2nA(數值孔徑)

      數值孔徑

      550 nm的光學分辨率

      5x

      0.15

      1.83 μm

      10x

      0.3

      0.92 μm

      基于縮放的系統的典型值



      1x

      0.075

      3.67 μm

      1x

      0.082

      3.35 μm

      Example: 550/(2 x 0.15) = 1833 nm ? 1.83 μm ? 5 x 1.83 = 9.15 μm

      ?當使用衰減要求(分辨率值的五倍)并使用5倍放大倍率的物鏡(給定分辨率為1.83μm)時,可根據VDA 19和ISO 16232建議檢測10μm

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